transmisijskim elektronskim mikroskopom ( TEM ) jetehnika koja se koristi za ispitivanje i karakterizaciju materijala na vrlo visokim rezolucijama . Snop visoke energije elektrona je usmjeren na uzorku . Neki od tih elektrona se prenose kroz uzorak te se fokusira na detektor gdje seslika je snimljena . Ostali signali mogu biti evidentirani , primjerice od elektrona koji se ne prenose kroz uzorak i raspršene natrag prema izvoru svjetlosti. To daje dodatnu informaciju koja pomaže znanstvenici karakteriziraju materijala . Visoka kvaliteta slike zahtijevaju uzoraka biti vrlo pažljivo pripremljen odgovarajući tehniku ​​. Uzorak Debljina
< p >tip TEM slike želite snimati diktira način na koji morate pripremiti svoj ​​uzorak . Međutim , u svim slučajevima ,uzorak mora biti dovoljno tanka da bi elektrona da prođe kroz uzorak i čine sliku na detektoru . Uzorci su u pravilu 10 do 300 nanometara (nm) debljine . Pri proučavanju sastav elemenata , tanji uzorci obično koriste . Za slike rutinu ,kompromis između rezolucije slike i stabilnost uzorka je potrebno , isrednje debljine od oko 100 nm. Uzorci oko 300 – nm debele se koristi za snimanje podataka o obliku površine uzorka je .
Prahu Uzorci

Praškasti uzorci sunajlakši i najbrži vrsta uzorka za pripremiti za TEM slike . Ako uzorak nije već u prahu , da se drobi i melje u fini prah – na primjer , pomoću tučkom i mužarom – ili ako se uzorak sastoji od nanočestica i zatim mljevenjem nije potrebno . Prah se otopi u relativno hlapivom otapalu da se dobije otopina uzorka . To je tada pala na kružnim bakrene mreže promjera 3 mm pomoću Pasteur pipete . Otapalo se ostavi da ispari ostavljajući uzorak na mrežu . Bakra mreža je montiran na nosaču uzorka i umetnut u TEM .
Mehanički Poliranje

Ponekad nije moguće samljeti svoj ​​uzorak i raspusti je u otopini – na primjer , kada želite gledati na određenom području uzorka . Umjesto toga , možete rubljakomad vašeg uzorka , a zatim ga izrezati na kriške . Ove kriške onda se montiraju u držač uzorka i mehanički stanjio na potrebnu debljinu . Mehanički stanjivanje postiže brušenjem montiran uzorak u potrebnoj debljini pomoću savijanja kotača ili ravnu brusilicu . Bivši ima dodatnu korist izrade uzorka je rubove deblji od središta i sprečava uzorak od izvijanja .
Elektropoliranje i ionska – Beam Glodala

< p> još dvije napredne tehnike nazivaju Elektropoliranje i mljevenje ionske zrake . Elektropoliranje koristi uzorak kao elektrode u elektrokemijske ćeliji . Suprotno nabijenih elektroda djeluje kao ” elektrolita jet ” i kapute uzorak na potrebnu debljinu . Ova tehnika ima prednost omogućujući vam da kaput uzorak s dodatnim slojem , kao što je ugljen , kako bi se spriječilo nakupljanje naboja tijekom snimanja i poboljšati kvalitetu slike snimljene . Glodanje Ion – zrake udarima jačih atomi od površine uzorka sve dok ne bude na potrebnoj debljini pomoću intenzivne zrake teških iona .