mikroskop atomskih sila ( AFM ) jeuređaj koji se koristi za mjerenje vrlo sitne značajke na nano- skali . Osnovne komponente sastoje se od malenog konzola , nakon što jeatomski oštrim vrhom . U svojoj kontakt načinu rada ,savjet je skenirana preko površine , i ona kreće gore i dolje sa značajkama na površini uzoraka . To omogućujekarta površine uzorka biti izgrađen . Kako bi se točno izračunati visinu uzorka značajki ,AFM normalno mora biti calibrated.Things što vam je potrebno
atomskih sila mikroskopom
mikroskopa atomske snage savjete
mikroskopa atomske snage kalibracija uzorak
pinceta
Screenshot prikaži još uputa Screenshot pregled, 1

Mount AFM vrh na držaču savjet . Nositelj savjet obično se sastoji od opružni montirana na plastičnu platformi . Korištenje pinceta , podignite novi savjet iz kutije i pažljivo stavite ga nakon plastične platforme . Pritisnite na opružni , tako daisječak malo podiže . Koristeći pincetu , nježno gurnite vrh pod oprugama isječak i pustite ga . Savjet bi trebao biti održan čvrsto na mjestu .
2

Postavite vrh na mikroskopa glavu . Normalnonositelj savjet će imati niz malih čepovi koji odgovaraju igle na mikroskop glavi . Pažljivo spojite držač savjet u igle na mikroskop glavi .
3

Planinakalibracija uzorak na pozornici skeniranja . Uzorci za kalibraciju obično se sastoji od mreže linija poznate debljine , obično oko 20 nM .
4

Slikauzorak kalibracije . Korištenje kontrola skeniranja , donijeti vrh u kontaktu s uzorkom kalibracije i izmjeriti odgovarajuće veličine slike , tako damreža može vidjeti .
5

Kalibrirati AFM i savjet . Nakon što je slika dovršena, provjerite izmjerenu vrijednost visine grid i usporedite to s debljinom koju je odredio proizvođač kalibracija uzorka

Izračunajte omjer stvarne debljine do izmjerene debljine .
< P > omjer kalibracije = Stvarni debljina /Izmjerena debljina

za buduće mjerenja debljina koriste ovaj AFM savjet , koristite preuredili formulu za određivanje točne debljine . Free

Stvarni debljine = omjer kalibracija x Izmjerena debljina